Duometric LVE-Pbi FP-50-00158光栅尺是德国Duometric公司生产的一款高精度光学测量设备，以下是对其详细介绍：
品牌背景与技术积淀
成立与发展：Duometric成立于1987年，最初以电梯光栅研发与生产切入市场，1997年将光电技术拓展至工业测量领域，2011年完成集团化转型，形成以光栅尺、安全光幕为核心的工业测量与安全产品线。
技术沉淀：在光学编码、信号处理及抗干扰技术上积累深厚，其光栅尺通过细分技术实现亚微米级分辨率，安全光幕响应时间低于2毫秒，满足高速动态监测需求。
性能特点
高精度测量
光栅尺利用莫尔条纹原理，将栅距通过光学系统放大，结合细分技术实现高分辨率测量，分辨率可达亚微米级，满足精密加工、半导体制造等领域的微米级位移检测需求。
例如，其细分技术可将物理栅距（如25μm）细分为更小单位（如0.5μm），显著提升测量精度。
快速响应
具备毫秒级响应速度，可实时反馈动态位移变化，适用于高速加工中心、自动化生产线等需要实时监测的场景。
例如，在数控机床中，其快速响应能力可确保加工过程的实时监控与调整。
模块化设计
支持与Duometric的LVE系统、LVX系统等模块化组件集成，便于用户根据需求灵活配置测量方案。
例如，可与LVE-O16、LVE-ALX等模块组合，实现多轴联动测量或复杂路径跟踪。
环境适应性
防护等级IP65，具备防尘、防水能力，可适应工业现场的油污、粉尘等恶劣环境。
工作温度范围通常为-20°C至+60°C，部分型号可扩展至-40°C至+85°C，适用于极端温度环境。
应用领域
数控机床
用于机床工作台、主轴等部件的位移检测，确保加工精度与重复定位精度。
例如，在五轴联动加工中心中，其高精度测量能力可提升复杂曲面加工的表面质量。
自动化生产线
监测机器人关节、传送带等设备的运动轨迹，实现闭环控制与故障诊断。
例如，在汽车焊接生产线中，其快速响应能力可实时调整焊接位置，提升焊接质量。
半导体设备
用于晶圆切割、光刻机等设备的精密定位，满足纳米级加工需求。
例如，在光刻机中，其高分辨率测量能力可确保光刻掩膜与晶圆的精确对齐。
科研测试
提供高精度位移基准信号，用于材料力学试验、振动分析等科研场景。
例如，在材料拉伸试验中，其高精度测量能力可准确捕捉材料的形变过程。
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