ITP VIM200003040蔡司测针是Zeiss公司与ITP联合推出的一款高精度测量探针。以下是对该测针的详细介绍：
从设计制造角度
精准设计：ITP 拥有专业的设计团队，针对各种测量需求进行精准设计。VIM200003040 测针在设计时充分考虑了测量的精度要求、不同工件的形状特点以及测量环境等因素，确保在各种复杂的测量场景下都能发挥出色的性能。
先进制造工艺：采用先进的生产设备和制造工艺，严格把控每一个生产环节，从原材料的选取到最终产品的成型，都经过了多道精密加工工序和严格的质量检测，保证了测针的尺寸精度和稳定性。
从材质特性角度
测球材质：通常采用高品质的红宝石、氮化硅、陶瓷等材料。若采用红宝石，硬度极高，摩氏硬度达 9 级，仅次于钻石，耐磨性极佳，能保证长期测量的准确性；若为氮化硅材质，在扫描铝表面等工件时，具有良好的抗材料吸附性。
测杆材质：选用陶瓷、硬质合金等材质。陶瓷杆具有重量轻、刚度高的特点，能减少自身重量对测量结果的影响，且在遇到碰撞时会断裂，可保护传感器；硬质合金杆则具有高强度和良好的耐磨性，能适应恶劣的测量环境。
从功能应用角度
高精度测量功能：凭借其精准的设计和优质的材质，VIM200003040 测针能够实现高精度的测量。无论是测量机械零件的尺寸精度、形状误差，还是电子元器件的微小尺寸，都能提供准确可靠的测量结果，可广泛应用于汽车、航空航天、电子制造等对精度要求极高的行业。
多场景应用适应性：可根据不同的被测工件和测量任务进行灵活配置。例如，在测量具有复杂形状的模具时，能通过更换不同长度、直径的测针，或者搭配不同形状的测球，实现对模具各个部位的精确测量；在测量航空发动机叶片时，其良好的耐磨性和抗变形能力，能确保在测量过程中不受叶片表面材质和形状的影响，准确获取叶片的各项参数。
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